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P型和N型金刚石薄膜研究进展
发布者: 发布时间:2016-07-01 浏览次数:

 

作者 单位 E-mail
龚春生  河南理工大学材料科学与工程学院,焦作 454000  645385331@qq.com 
李尚升  河南理工大学材料科学与工程学院,焦作 454000  645385331@qq.com 
张贺  河南理工大学材料科学与工程学院,焦作 454000   
 
中文摘要:
      金刚石薄膜有着高的热导率,高的介质击穿场强,高的载流子迁移率以及宽的禁带等优点,是非常理想的功能材料。掺杂使金刚石薄膜具有独特的电学和热学性能,使其在半导体领域具有广阔的应用前景,近年来成为国内外研究的热点之一。综述了金刚石薄膜P型掺杂和N型掺杂的研究现状,对金刚石薄膜N型掺杂研究中存在的问题进行了分析和探索,并对N型金刚石的前景进行了展望。
英文摘要:
      Diamond film with the advantages such as high thermal conductivity, high dielectric breakdown vol-tage, high carrier mobility and wide band gap etc, is a very promising functional material. The electrical and thermal properties of doped diamond thin films are unique, therefore it has vast potential for future application in the field of semiconductor. Doped diamond thin films have become a hot research topic both at home and abroad in recent years. In this paper, the research status of P-type doping and N-type doping for diamond thin films is reviewed. The problems existing in the research on N-type diamond are discussed as well the future prospect.
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